兩分鐘帶您了解：光譜分析儀基體效應
隨著(zhù)時(shí)代的發(fā)展，分析儀的應用越來(lái)越廣泛，今天就帶大家來(lái)介紹一下分析儀的進(jìn)基本效應。實(shí)際工作中被測量的樣品，往往其成份是由多種元素組成，除待測元素以外的元素統稱(chēng)為基體。由于被測量的樣品中，其基體成份是變化的(這個(gè)變化一是指元素的 變化，二是指含量的變化)，它直接影響待測元素特征X射線(xiàn)強度的測量。換句話(huà)說(shuō)，待測元素含量相同，由于其基體成份不同，測量到的待測元素特征X射線(xiàn)強度 是不同的，這就是基體效應。光譜分析儀基體效應是X射線(xiàn)熒光定量分析的主要誤差來(lái)源之一。光譜分析儀基體效應是個(gè)無(wú)法客觀(guān)，其物理實(shí)質(zhì)是激發(fā)(吸收)和散射造成特征X射線(xiàn)強度的變化，除待測元素外，基體成份中靠近待測元素的那些元素對激發(fā)源的 射線(xiàn)和待測元素特征X射線(xiàn)產(chǎn)生光電效應的幾率比輕元素(在地質(zhì)樣品中一些常見(jiàn)的主要造巖元素)的幾率大得多，也就是這些鄰近元素對激發(fā)源發(fā)射的X射線(xiàn)和待 測元素的特征X射線(xiàn)的吸收系數比輕元素大得多;輕元素對激發(fā)源放出的射線(xiàn)和待測元素的特征X射線(xiàn)康普頓散射幾率比重元素大得多。希望以上介紹能幫助到大家，若有其他問(wèn)題可咨詢(xún)網(wǎng)站客服。
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